집속이온빔 전자현미경 장치 [ Focused Ion Beam SEM system] — 발주계획 상세

연결된 입찰공고

아직 공고 전입니다. 발주예정 시기는 2026년 10월 이며,
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발주계획 정보

발주예정

2026년 10월

사업금액(합계)

23.3억원 (2,327,000,000원)

계약방법

제한경쟁

조달방법

자체조달

품명

주사전자현미경

공사기간

202711

관할구분

기타기관

총괄기관

교육부

담당

구매팀 · 정혜윤

연락처

053-810-1284

사전규격번호

R26BD00282047

첨부파일 2

PDF 물품구매규격서_[산단]집속이온빔 장치(국문).pdf 112KB

PDF 물품구매규격서_[산단]집속이온빔 장치(영문).pdf 79KB

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규격 · 수량 · 비고

수량 (단위: 식)

Dual Beam FIB

규격서 참조

용도

연구용

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