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치수, 표면조도 동시측정 가능, 면단위 oneshot 측정 가능, 수직(Z축) 분해능: 최고 0.1 nm 이하, 측정 정밀도: 높이 ±2.5 μm, 폭 ±5 μm 이하,
적층제조 제품의 치수 및 표면조도 측정
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