규격서 참조
소자의 설계 결과가 실제 실리콘 웨이퍼나 패키지 칩에서 똑같이 구현되었는지 검증하는 디바이스 특성 평가(Characterization) 및 설계 검증(Design Verification)의 핵심 장비로 사용됨. 칩의 소형화와 저전력화를 달성하기 위해 이 장비의 0.1fA 초미세 전류 분해능과 듀얼 채널 제어 능력이 적극적으로 활용될 수 있음.
가입 후 동의하시면 5회 이용권
가입 후 마케팅 알림 수신에 동의하시면 AI 낙찰가 예측 5회 이용권을 드립니다.
소셜 계정으로 간편하게 시작하세요.
회원가입 또는 로그인 시, 이용약관에 동의한 것으로 간주됩니다.